-
日立高新NB5000聚焦离子束&电子束装置
: JP2842083 日立高性能聚焦离子束-扫描电子显微镜的融合是纳米材料、功能材料的加工分析利器! 日立产品高稳定性与高性能的融合(超高性能聚焦离子束和超高分辨率场发射电子显微镜)使得
-
日立高新FB2200聚焦离子束系统
) 可制作出极微小的精度高的薄膜样 效率高,精度高,质量高 1、60nA离子束电流,提高了样品制备效率 2、原位低加速电压,使样品制备损伤率更低 3、采用日立zl超薄样品制备技术
-
离子研磨系统ArBlade5000
高耐磨遮挡板耐磨遮挡板是标准遮挡板的2倍左右(不含钴)加工监测用显微镜放大倍率 15×~100× 双目型、三目型(可加装CCD) ArBlade 5000是日立离子研磨仪的高性能机型。 它实现了超高速
-
日立 IM4000PLUS离子研磨仪器
日立高新技术有限公司的注册商标。特点高通量的断面研磨配备断面研磨能力达到500 µm/h*2以上的高效率离子枪。因此,即使是硬质材料,也可以高效地制备出断面样品。*2在加速电压6 kV下,将Si从遮挡
-
日立高新MC1000磁控溅射器
-
TM3030Plus日立高新台式显微镜
项目 内容 放大倍率 15 ~ 60,000 × (数码连续放大: - ×240,000) 设定观察条件 5 kV/15 kV
-
日立荧光分布成像系统EEM View
-
日立电镜样品清洗仪Zone SEM/TEM
/TEM快速无损伤清洁样品表面污染 Zone SEM清洁区域范围大70mm Zone TEM 适用广泛,同时装载3根样品杆日立TEM、STEM、FIB,且适用于其他电镜厂家样品台及样品杆
-
日立ALOKA 125I测量仪 TCS-173
主要技术参数:测量对象:γ射线、β(γ)射线;探测器:φ20mm 端窗型卤素GM管探测器,β线屏蔽:前端4mm厚铝盖;测量范围:0.3μSv/h~300μSv/h;~1000s-1;电源:3号
-
AeroSurf1500扫描电子显微镜
可在大气压(105Pa)下得到SEM图像1、可在大气压(105Pa)下得到SEM图像;2、台式扫描电镜设计;3、低真空下成分分析;4、优质的图像处理控制
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net